TQ172.12
采用X射线小角散射(SAXS)技术,测定了硅粉水泥石中微孔孔界面电子密度过渡层厚度,并对过渡层厚度产生的原因进行了探讨.研究表明硅粉水泥石中微孔界面不具有分明的边界,而具有约2×10-9m厚度的电子密度缓变的过渡层;当水灰比较大时,水灰比和硅粉含量对过渡层厚度有较大的影响;水泥石的抗压强度与过渡层厚度存在较显著的相关性.
朱卫华 蒋林华 印友法 车黎明.硅粉水泥石小角度X射线散射实验研究（Ⅱ）——微孔界面过渡层厚度[J].建筑材料学报,2001,(3):228-231
